产品介绍:
X-MET8000 Optimum是较新推出的手持式X射线荧光光谱仪,该仪器结合了50kV微型X射线管和*特的大面积高分辨率硅漂移探测器(SDD),革命性地改善了手持仪器的分析精度和测量时间。
该仪器广泛应用于分析合金成份、牌号鉴定及金属镀层进行有效现场分析,不仅可以检测常见的不锈钢、中低合金钢、工具钢、铝合金、钛合金、镍合金、钴合金还可以检测诸如Au, Ag, Pt, Sn, Pb, W, Bi等一些特殊的合金。X-MET8000 Optimum亦可以进行提供失效金属材料化学成分分析,可以结合其他的分析手段寻找材料失效原因。
X-MET8000 Optimum可分析的元素:
X-MET8000 Optimum可分析的元素范围是元素周期表中原子序数12Mg到92U之间的元素。X-MET8000 Optimum工厂预制的基本参数法校准曲线可分析的元素包括Ag, Al, Au, As, Bi, Cd, Cr, Co, Cu, Fe, Hf, In, Ir, Mg, Mo, Mn, Nb, Ni, P, Pd, Pt, Pb, Re, S ,Se, Si, Sn, Sb, Ta, Ti, V, W, Y, Zn, Zr等35种元素,亦可根据客户特殊需求增加特殊分析元素。